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ICP-OES MICS系列全譜直讀型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,利用性能可靠的集成固態(tài)射頻電源、穩固的恒溫二維分光系統、科研級制冷防溢出CCD檢測系統,結合國內領(lǐng)先的光譜校正技術(shù),將ICP OES MICS的操作性、靈活性和可靠性發(fā)揮的超乎想象,日常操作和維護非常簡(jiǎn)單,更適合國內一線(xiàn)分析實(shí)驗的操作要求,實(shí)現小型化(Miniatorization)、便捷化(Intelligentize)、智能化( Convenience)的光譜儀( Spec仕ometer )。
全譜直讀型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀是一款性能優(yōu)異的全譜直讀型ICP光譜儀,用于測定不同物質(zhì)中的常量、微量、痕量元素含量,可用于樣品中元素的定性、半定量及精確定量分析,檢出限可達十億分之一。
ICP700T 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀作為專(zhuān)業(yè)型實(shí)驗室分析儀器,具有測試元素多,最多可測70余種元素,測試速度快,檢出限低等眾多特點(diǎn)。主要應用于稀土工業(yè)、硅工業(yè)、石油化工、礦石分析、金屬冶煉、地質(zhì)研究、藥昂安全、實(shí)驗研究、環(huán)境檢測等領(lǐng)域。
多頭控溫磁力加熱攪拌器廣泛用于各大中院校、環(huán)保、科研、衛生、防疫、石油、冶金、化工、醫療等單位,根據廣大用戶(hù)要求設計有二連、四連、六連等多連可加熱攪拌恒溫控制。HJ-6A型多頭數顯磁力加熱攪拌器 多頭數顯磁力加熱攪拌器 數顯磁力加熱攪拌器 磁力加熱攪拌器使廣大用戶(hù)多個(gè)樣品同時(shí)得到相應效果和數據。本儀器性能好,噪聲低、攪拌*,是實(shí)驗室化驗人員理想的工具。
723N可見(jiàn)分光光度計是一款經(jīng)濟型分析儀器,選配RS232接口輸出,優(yōu)良的測光精度高于一般的同檔儀器。掃描型可見(jiàn)分光光度計 廣泛應用于醫療檢測、食品、石化工業(yè)、環(huán)境保護與監控等眾多領(lǐng)域。
IC-hope 1200離子色譜儀可以進(jìn)行抑制型或非抑制型電導檢測和安培檢測,它主機箱、全PEEK雙柱塞串聯(lián)泵、進(jìn)樣閥、保護柱/分離柱、帶預熱功能柱溫箱、電解自再生抑制器、帶恒溫裝置的電導檢測器、安培檢測器和多通道數據處理及儀器控制軟件系統組成。
紫外可見(jiàn)分光光度計是一種能適應現代分析實(shí)驗室運用光譜分析法對物質(zhì)進(jìn)行各種定量分析需要的低價(jià)格、高性能的分光光度計。紫外可見(jiàn)分光光度計 紫外分光光度計 可見(jiàn)分光光度計 紫外光度計廣泛應用于醫藥衛生、環(huán)境保護、食品工業(yè)、石油化工、生物化學(xué)、大專(zhuān)院校及質(zhì)量控制等部門(mén)。
722型可見(jiàn)分光光度計可廣泛應用于醫藥衛生、臨床檢驗、生物化學(xué)、石油化工、環(huán)境保護、質(zhì)量控制、司法刑偵、檢驗、檢疫、林業(yè)、地質(zhì)勘探、食品檢測等行業(yè),可見(jiàn)分光光度計 分光光度計 紫外可見(jiàn)分光光度計 是理化實(shí)驗室重用的分析儀器之一。
UV752型紫外可見(jiàn)分光光度計可廣泛應用于醫藥衛生、臨床檢驗、生物化學(xué)、石油化工、環(huán)境保護、質(zhì)量控制、司法刑偵、檢驗、檢疫、林業(yè)、地質(zhì)勘探、食品檢測等行業(yè),紫外可見(jiàn)分光光度計 紫外可見(jiàn)光度計 可見(jiàn)分光光度計 紫外光度計是理化實(shí)驗室重用的分析儀器之一。
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GE系列電子分析天平是采用電磁平衡式傳感器技術(shù)來(lái)進(jìn)行開(kāi)發(fā)研制的,它具有高精度、環(huán)境適應性強等特點(diǎn),同時(shí)還有百分比、計數功能和多種單位轉換功能。十萬(wàn)分之一天平將傳統的分類(lèi)元件線(xiàn)路板改成超大數字集成型,十萬(wàn)分之一天平 十萬(wàn)分之一電子分析天平 十萬(wàn)分之一電子天平 十萬(wàn)分之一分析天平使該系列電子天平的性能更加穩定。
GL系列電子分析天平是采用電磁平衡式傳感器技術(shù)來(lái)進(jìn)行開(kāi)發(fā)研制的,它具有高精度、環(huán)境適應性強等特點(diǎn),同時(shí)還有百分比、計數功能和多種單位轉換功能。全自動(dòng)內校萬(wàn)分之一天平將傳統的分類(lèi)元件線(xiàn)路板改成超大數字集成型,使該系列電子天平的性能更加穩定。全自動(dòng)內校萬(wàn)分之一天平 全自動(dòng)內校電子分析天平 內校萬(wàn)分之一天平 內校電子分析天平 萬(wàn)分之一天平 萬(wàn)分之一分析天平內部全自動(dòng)校準,使天平的操作更加簡(jiǎn)便快捷,新能穩定、準確。內置RS232輸出接口,可選配連接計算機、打印機等外部設備。
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